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ROHS檢測(cè)儀在儀器檢測(cè)、儀器校準(zhǔn)行業(yè)中發(fā)揮著重要的作用，對(duì)于RoHS檢測(cè)儀設(shè)備生產(chǎn)廠家或者儀器校準(zhǔn)第三方機(jī)構(gòu)來(lái)說(shuō)，了解RoHS檢測(cè)儀的保養(yǎng)，如何保養(yǎng)維護(hù)好RoHS檢測(cè)儀非常重要。以下就是儀器檢測(cè)技術(shù)工人的總結(jié)：一、儀器工作的外部環(huán)境1、周圍強(qiáng)磁場(chǎng)干擾設(shè)備合理的工作環(huán)境，要求在沒有電機(jī)、振動(dòng)、電磁、高壓或有高頻率電焊器等電磁干擾的地方安裝，否則會(huì)干擾設(shè)備的譜形或造成設(shè)備不能正常工作。2、環(huán)境溫度，濕度的影響應(yīng)保持室溫20～25℃為宜，氣溫過高或過低都會(huì)影響設(shè)備的正常運(yùn)作，所以...
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含鉛檢測(cè)儀器空白與樣品所用試劑的純度和容器的潔凈度有關(guān)。再加之，鉛廣泛分布于自然界。因此，鉛的檢測(cè)是易污染、*低的痕量分析，空白越低，準(zhǔn)確度越高。所以，要求整個(gè)實(shí)驗(yàn)空白要很低，實(shí)驗(yàn)過程中要嚴(yán)格控制污染。1.實(shí)驗(yàn)用水應(yīng)符合GB/T6682-2008《分析實(shí)驗(yàn)室用水規(guī)格和試驗(yàn)方法》二級(jí)水的要求。2.實(shí)驗(yàn)試劑應(yīng)使用優(yōu)級(jí)純，如果沒有符合純度要求的試劑，可采用化學(xué)法進(jìn)行提純，但是在提純過程中，要注意避免溶劑二次沾污的可能性，同時(shí)實(shí)驗(yàn)選用的試劑，還應(yīng)以不沾污待測(cè)元素為基準(zhǔn)（在實(shí)驗(yàn)中，如果...
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1、表面與外殼的清潔。儀器可用微濕的抹布進(jìn)行表面清潔，不可用堿性或酸性清潔劑，應(yīng)使用中性清潔劑。2、內(nèi)部與探測(cè)器的清潔，在清潔過程中，必須注意不要將異物掉入測(cè)試窗口中，測(cè)試窗口應(yīng)該保持清潔，同時(shí)不能使用硬物接觸測(cè)試窗口內(nèi)，防止損傷探測(cè)器窗口和X光管窗口。3、開合蓋子需要注意什么問題儀器上禁止擺放茶杯，重物等與測(cè)試無(wú)關(guān)的物品，以免污染或損傷儀器。4、國(guó)產(chǎn)ROHS儀器的維護(hù)及安全使用方法(a)儀器測(cè)試窗口為裸露狀態(tài)時(shí)，必須保證無(wú)異物進(jìn)入測(cè)試窗口內(nèi)。(b)儀器的測(cè)試窗口下方是進(jìn)口探...
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臺(tái)式x熒光光譜儀樣品種類樣品狀態(tài)一般有固體塊狀樣品、粉末樣品和液體樣品等。（1）固體塊狀樣品包括黑色金屬、有色金屬、電鍍板、硅片、塑料制品及橡膠制品等，其中金屬材料占了很大的比例。（2）粉末樣品包括各種礦產(chǎn)品，水泥及其原材料，金屬冶煉的原材料和副產(chǎn)品如鐵礦石、煤、爐渣等；還有巖石土壤等。（3）液體樣品油類產(chǎn)品、水質(zhì)樣品以及通過化學(xué)方法將固體轉(zhuǎn)換成的溶液等。臺(tái)式x熒光光譜儀中不同樣品有不同的制樣方法。金屬樣品如果大小形狀合適，或者經(jīng)過簡(jiǎn)單的切割達(dá)到國(guó)產(chǎn)X熒光光譜儀分析的要求，只...
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ROHS檢測(cè)儀就是X射線熒光光譜儀，其分析原理也就是X射線熒光光譜儀的分析原理。X射線熒光光譜儀通常可分為兩大類，波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜儀(WDXRF)和能量色散X射線熒光光譜儀(EDXRF)，波長(zhǎng)色散光譜儀主要部件包括激發(fā)源、分光晶體和測(cè)角儀、探測(cè)器等，而能量色散光譜儀則只需激發(fā)源和探測(cè)器和相關(guān)電子與控制部件，相對(duì)簡(jiǎn)單。波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜儀使用分析晶體分辨待測(cè)元素的分析譜線，根據(jù)Bragg定律，通過測(cè)定角度，即可獲得待測(cè)元素的譜線波長(zhǎng)：nλ=2dsinaθ（n=1,2,...
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ICP光譜儀應(yīng)用范圍都有哪些?ICP光譜儀它的迅速發(fā)展和廣泛應(yīng)用是與其克服了經(jīng)典光源和原子化器的局限性分不開的，ICP光譜法是上世紀(jì)60年代提出、70年代迅速發(fā)展起來(lái)的一種分析方法。近代的光譜儀大都采用微型計(jì)算機(jī)處理實(shí)驗(yàn)結(jié)果，ICP光譜儀是當(dāng)前光譜分析中zui迅速zui靈敏的一種儀器。光譜儀是上述各種儀器的總稱，各種光譜儀的形式各異。ICP光譜儀應(yīng)用范圍一、地礦樣品的分析：包括地質(zhì)樣品、礦石及礦物等。二、動(dòng)植物及生化樣品的分析：包括植物、中藥及動(dòng)物組織、生物化學(xué)樣品等。三、核...
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EXF鍍層測(cè)厚儀原子的特性由原子序來(lái)決定，亦即質(zhì)子的數(shù)目或軌道中電子的數(shù)目，即如圖所示特定的X-射線能量與原子序間的關(guān)系。K輻射較L輻射能量高很多，而不同的原子序也會(huì)造成不同的能量差。覆層厚度的測(cè)量方法主要有：楔切法，光截法，電解法，厚度差測(cè)量法，稱重法，X射線熒光法，β射線反向散射法，電容法、磁性測(cè)量法及渦流測(cè)量法等。這些方法中前五種是有損檢測(cè)，測(cè)量手段繁瑣，速度慢，多適用于抽樣檢驗(yàn)。EXF鍍層測(cè)厚儀是無(wú)接觸無(wú)損測(cè)量，但裝置復(fù)雜昂貴，測(cè)量范圍較小。因有放射源，使用者必須遵守...
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1.影響因素的有關(guān)說(shuō)明a基體金屬磁性質(zhì)磁性法測(cè)厚受基體金屬磁性變化的影響(在實(shí)際應(yīng)用中，低碳鋼磁性的變化可以認(rèn)為是輕微的)，為了避免熱處理和冷加工因素的影響，應(yīng)使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標(biāo)準(zhǔn)片對(duì)儀器進(jìn)行校準(zhǔn);亦可用待涂覆試件進(jìn)行校準(zhǔn)。b基體金屬電性質(zhì)基體金屬的電導(dǎo)率對(duì)測(cè)量有影響，而基體金屬的電導(dǎo)率與其材料成分及熱處理方法有關(guān)。使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標(biāo)準(zhǔn)片對(duì)儀器進(jìn)行校準(zhǔn)。濕度傳感器探頭,,不銹鋼電熱管PT100傳感器,,鑄鋁加熱器,加熱圈流體電磁閥c基體金屬厚度...
